刊号CN51-1594/TQ，ISSN 1009-4369，邮发代号62-315
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基于高光谱遥感技术的绝缘子表面污秽检测方法研究*
期数：2023年第05期
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分类：分析测试
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阅读：
作者：
申 巍1，宋治波2，王 森1，赵海英3，朱明曦1，薛建鹏1，李振涛1，杨 昊2
